Вивчення явища інтерференції

Вивчення явища інтерференції
Вивчення явища інтерференції

Мета роботи: дослідити явище інтерференції за допомогою фотографії "кілець Ньютона".
Обладнання: фотографія "кілець Ньютона", лінійка.

Теоретичні відомості:
"Кільця Ньютона" пояснюються наявністю тонкого повітряного прошарку між лінзою і пластиною.
Рис.1 Схематичне зображення утворення "кілець Ньютона".
Інтерференція відбувається між світловим пучком 1, відбитим від випуклої поверхні лінзи (відхиленням цього пучка від вертикального напрямку можна знехтувати), і світловим пучком 2, відбитим від плоскої поверхні пластини.

Визначення фокусних відстаней та оптичних сил лінз

Визначення фокусних відстаней та оптичних сил лінз
Визначення фокусних відстаней та оптичних сил лінз

Мета роботи:використовуючи формулу тонкої лінзи визначити фокусні відстані та оптичні сили збиральної та розсіювальної лінз.
Обладнання: розсіювальна лінза, збиральна лінза, джерело світла, екран, лінійка вимірювальна, штативи 2 шт або оптична лава.

Теоретичні відомості:
Так як метод визначення фокусної відстані збиральної лінзи є доволі тривіальним, ми не будемо тут детально зупинятися на ньому. Обмежимося лише згадкою про формулу тонкої лінзи: 1/F=(1/d)+(1/f), де F - фокусна відстань збиральної лінзи,d - відстань від джерела світла або предмета до збиральної лінзи і f - відстань від збиральної лінзи до зображення джерела світла або предмета. З розсіювальною лінзою ситуація буде трошки складніша.
Як відомо, розсіювальна лінза утворює лише уявне зображення, яке неможливо одержати на екрані, а, отже, неможливо виміряти відстань від лінзи до зображення. Фокусну відстань розсіювальної лінзи можна визначити, якщо використати другу лінзу - збиральну.
Одержавши за допомогою збиральної лінзи дійсне зображення S' джерела світла на екрані, можна поставити між збиральною лінзою і екраном розсіювальну лінзу. Дійсне зображення джерела світла при цьому зміщується. Нове положення зображення S" можна знайти переміщенням екрана.
Рис.1 Схематичне зображення руху променів крізь збиральну та розсіювальну лінзи.

Визначення показника заломлення скла за допомогою мікроскопа

Визначення показника заломлення скла за допомогою мікроскопа
Визначення показника заломлення скла за допомогою мікроскопа

Мета роботи: оволодіти методом визначення показника заломлення скла за допомогою мікроскопа та визначити показник заломлення скла.
Обладнання: мікроскоп з мікрометричним гвинтом, скляна пластина з мітками на обох поверхнях, мікрометр (штангенциркуль).

Теоретичні відомості:
Абсолютним показником заломлення n даного середовища називається відношення синуса кута падіння α променя, що йде з вакууму, до синуса кута заломлення β в цьому середовищі, тобто n=sinα/sinβ.
Рис.1 Схематичне зображення руху променів у скляній пластинці з паралельними гранями.

Визначення показаника заломлення скла

Визначення показаника заломлення скла
Визначення показаника заломлення скла

Мета роботи: визначити показник заломлення скляної пластини з паралельними гранями (скляної призми).
Обладнання: скляна плоскопаралельна пластина (скляна призма), аркуш паперу з накресленими паралельними лініями, олівець, лінійка (трикутник, циркуль, інше канцелярське знаряддя).

Хід роботи:

1. Покладіть на аркуш плоскопаралельну скляну пластину перпендикулярно до накреслених (роздрукованих) ліній (рис. 1).

Фізичний практикум, 11-й клас

Фізика, 11-й клас

Education

Optical follow-up of the Gaia19btn

ZTF19aaumtxz/Gaia19btn/AT2019fdawas discovered on 2019-05-09 by J. Nordin, V. Brinnel, M. Giomi, J. van Santen (HU Berlin), A. Gal-Yam, O. Yaron, S. Schulze (Weizmann) on behalf of ZTF team at magnitude r-ZTF = 15.43 and rediscovered on 2019-05-12 by A. Delgado, D. Harrison, S. Hodgkin, M. van Leeuwen, G. Rixon, A. Yoldas (University of Cambridge), on behalf of Gaia Alerts team.

Optical follow-up of the Gaia17cuh

Object was discovered on 2017-11-02 and alerted on 2017-11-07 by A. Delgado, D. Harrison, S. Hodgkin, M. van Leeuwen, G. Rixon, A. Yoldas (University of Cambridge), on behalf of Gaia Alerts team.

First follow-up observations were provided by Terskol observatory on 2017-11-17 and 2017-11-18 during the declinig phase. Results were published in The Astronomer's Telegram .

Monitoring of selected Be/X-ray binaries

Here we are present the results of mostly 10-years monitoring of selected Be/X-ray binaries. We pay most attention on 1H1936+541 and 1H2202+501.

Сторінки

Підписатися на Andrew Simon RSS